최근의 임베디드 회로는 다양한 신호 성분들이 혼합되어 있어, 기존의 디버깅 툴을 통해 디버깅 하기가 까다롭고 또한 시간도 많이 소비해야 하는 문제점에 직면해 있습니다.

특히 최근의 임베디드 회로는 RF신호까지 혼재되어 있어, 기존의 오실로스코프로 만으로는 아날로그, 디지털 및 RF신호까지 디버깅하기가 어렵습니다. 이러한 이유로 인해 최근 조사에 의하면 60%가 넘는 오실로스코프 유저들이 스펙트럼 분석기도 같이 사용하고 있습니다.

텍트로닉스의 “혼합도메인 오실로스코프”는 이러한 문제점들을 가장 쉽게 해결 해 줄 수 있는 임베디드 측정 솔루션입니다.

하나의 계측기 화면에서 기존의 오실로스프가 제공했던 타임도메인상의 신호 성분과 스펙트럼분석기가 제공했던 주파수도메인상의 신호 성분을 동시에 시간 정렬된 정보를 확인 할 수 있어, 다양한 신호가 혼재 되어 있는 보드상에서 문제가 되고 있는 부분을 쉽게 확인 및 디버깅 할 수 있는 기능을 제공하고 있습니다.

이번 세미나에서는 최근의 무선 임베디드 시스템 측정 동향 및 텍트로닉스가 세계최초로 개발한 혼합도메인오실로스코프를 이용한 무선 임베디드 시스템 측정 방법에 대해서 소개 해 드리도록 하겠습니다.